本发明提供了一种
芯片检测标记计数方法及其设备，包括以下步骤：开启电机，芯片前进，芯片依次经过到位检测工位、次品芯片检测工位、芯片读写性能检测工位、标记工位。在此过程中，次品芯片检测工位对芯片的孔进行检测，芯片读写性能检测工位对芯片进行读写性能检测，标记工位按照前述检测反馈的信息对芯片进行新的标记。本发明提供的方案具有较高的自动化程度，节省空间，便于操作，能够进行个性化标记，可广泛地在IC卡生产企业中应用。
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“一种芯片检测标记计数方法及其设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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