本发明公开了一种半导体照明产品散热性能检测装置，包括检测装置，所述检测装置包括以下步骤：步骤1：提供待检测设备，置于检测平台上；步骤2：在高温状态下通电30分钟，检测30分钟内待检测设备的温度线性变化斜率K1；步骤3：待步骤2中的待检测设备冷却至常温状态，再次通电30分钟，检测30分钟内待检测设备的温度线性变化斜率K2；步骤4：将K1，K2与阈值范围H比较，超出H范围标记为不合格，不超出H范围标记为合格。所述阈值范围H根据实际待测器件的大小种类具体设定。所述检测平台底部设置温度探测器和控制器，所述温度探测器探测检测平台的温度并发送至控制器，控制器接收温度信息并根据预设的阈值范围H判断。
声明：
“一种半导体照明产品散热性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
827
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
