本发明公开了一种用于取向硅钢片性能检测的单片磁导计，包括U型上磁轭、U型下磁轭、初级线圈绕组、次级线圈绕组、H线圈绕组及支撑板；次级线圈绕组位于初级线圈绕组内部且均布置在支撑板上，待测试样放置于支撑板上且位于次级线圈绕组中间，H线圈绕组位于待测试样下表面中间部位的下方；H线圈绕组包括3～5个大小相等、等间距分布且串联布置的H线圈单元，所有H线圈单元沿待测试样的中心轴对称分布在待测试样下表面中间部位的下方。还提供一种检测装置和检测方法，采用H线圈绕组直接测量电工钢带单片试样的磁极化强度和采用数字空气磁通补偿的检测方法测得的结果更接近样品真实值。
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“用于取向硅钢片性能检测的单片磁导计、检测装置及检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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