本实用新型提供的存储器
芯片的性能检测装置包括:主体(7);用于连接存储器芯片的芯片连接装置(8);用于输入清空指令的操作按键(9);以及控制模块(10);芯片连接装置(8)和操作按键(9)分别设置在主体(7)的外表面,控制模块(10)设置在主体(7)的内部,控制模块(10)包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单元(11),操作按键(9)和芯片连接装置(8)分别与控制模块(10)的清空单元(11)电连接。采用本实用新型提供的性能检测装置可以避免频繁更换机车存储器芯片,降低检修成本,并提高机车运行安全性。
声明：
“一种存储器芯片的性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1088
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
