本发明涉及一种基于模型识别的集成
芯片功能性能检测方法测方法，包括如下步骤：步骤１：由主控平台读取IBIS模型文件，由模型解析单元分析出芯片的型号以及第一个输入引脚的I/O特征曲线，把特征曲线翻译成可测试的参数值，通过指令发送给参数接收/发送单元，再将此指令下发给信号模拟和检测装置，信号模拟与检测装置的微处理器根据控制信号源产生模拟电压或逻辑电平经待测芯片引脚驱动与保护电路给待测芯片输入引脚；步骤２：开启高速ADC，实时读取被测芯片输出引脚端的参数值并记录，启动参数接收/发送单元接收当前组输出信息并保存。使用IBIS模型作为集成芯片测试的依据，不再需要去获取专用的SCPI文件。可以实现对任一芯片的功能与性能测试。
声明：
“一种基于模型识别的集成芯片功能性能检测方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
920
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
