全部
▼
274
工作原理：
基于X射线与镀层元素的相互作用：仪器发射低能X射线束照射样品表面，激发镀层金属原子（如锌、镍、铬、铜、金等）的特征荧光X射线，高分辨率探测器捕获信号并生成能量谱线，通过内置算法解析谱线强度与峰位，精准计算镀层厚度及成分比例。
应用范围：
应用于汽车零部件、电子元器件、五金卫浴、航空航天、新能源电池及科研机构等领域，适用于镀锌钢板、镀镍件、装饰性镀层（如24K金）、硬质涂层（如TiN）及光伏背板镀层的厚度检测。
产品技术参数：
测量范围：0.001μm-100μm（视镀层材质与基材类型）
测量精度：±(1-3%读数)（标准工况下，具体取决于元素与厚度）
重复性：≤0.3%（同一测量点连续10次测量）
元素检测：可分析11-92号元素（Na至U），覆盖常见镀层金属
测量时间：3-60秒/点（可调），支持快速扫描与高精度模式
显示方式：8.4英寸彩色触摸屏，支持中英文界面与实时数据趋势图
数据管理：内置200,000组数据存储，支持USB/以太网/Wi-Fi导出至Excel或PDF报告
电源：AC 100-240V，50/60Hz，功耗≤200W
防护等级：主机IP54，X射线安全符合ISO 11929及中国GB 18871标准
产品特点：
高精度与多元素分析：采用日立专利硅漂移探测器（SDD）与微型X射线管，分辨率≤135eV，可区分多层镀层厚度与成分差异。
智能操作与校准：一键自动校准，内置300+种标准样品数据库，支持自定义校准曲线与基材补偿。
非接触式无损检测：无需制样，最小测量区域0.1mm²，适配微小焊点、精密连接器等场景。
便携与工业级设计：主机重量5.2kg，一体化三防外壳，通过MIL-STD-810G振动测试，适配车间与实验室双环境。
云端数据集成：支持OPC UA协议与企业MES系统对接，实现检测数据实时上传、分析与追溯。
咨询底价
