本发明提出一种爱泼斯坦方圈磁性能检测装置和方法，包括绝缘底板和爱泼斯坦方圈，爱泼斯坦方圈为四个绕组骨架在绝缘底板上形成的方框结构，绕组骨架中嵌设H线圈，外部绕设内外两层线圈，初级磁化线圈N
1和次级感应线圈N
2，可以使用爱泼斯坦方圈进行电流法和/或H线圈法进行磁性能检测，本发明提高检测精度，检测方法多样。
声明：
“一种爱泼斯坦方圈磁性能检测装置和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1064
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
