本发明提供了一种红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法。该方法利用加热装置提供均匀、稳定的热通量加热待测薄膜，加热后的薄膜向外发出红外辐射，红外摄像装置接收辐射信号，并将辐射信号转变成电信号，经后处理装置处理后，将待测薄膜表面的温度分布图显示出来。在某一特定时刻，待测薄膜表面的温度变化的百分比与厚度变化的百分比相等。待测薄膜表面温度无差异就说明薄膜厚度均匀。该方法可以快速、无损检测薄膜厚度均匀性，且无视待测薄膜是否导电、是否透明。可用于
锂电池极片、塑料袋的密封检测等。
声明：
“红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1184
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
