本实用新型涉及一种用于
锂离子方型电池
铝壳刻痕深度的简易测量装置,包括支架,所述支架垂直设置于显微镜底座一端,显微镜样品台平行置于显微镜底座上,显微镜主体通过支架上横梁,对应设置于显微镜样品台上方,所述螺旋测微器同轴置于显微镜主体上方;显微镜底座前端设有支柱,其右侧设有定位显微镜主体的显微镜固定旋钮,对应显微镜主体设有显微镜调焦旋钮。该装置是调节显微镜的焦距,与电池壳表面对焦,然后用位于支架上的螺旋测微器测量显微镜主体顶部距离,得测量数值L1;用相同的方法再与电池壳刻痕底部对焦,用螺旋测微器测量显微镜主体顶部距离,得到测量数值L2;将L1减去L2,得差值即是电池壳刻痕的深度值。该装置操作简单,测量精确。
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“用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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