本发明涉及一种
新能源汽车集成电路
芯片测试系统及其测试方法，包括测试框，测试框内通过摇摆机构安装有摆动框，摆动框内设置有摆动机构；将集成电路芯片固定在本发明的摆动机构上，摇摆机构与摆动机构之间相互配合模拟汽车行驶中的颠簸状态。本发明可以解决现有汽车用集成电路芯片在生产测试过程中存在的以下难题，a，直接对成型的集成电路芯片进行测试，无法确保集成电路芯片安装到汽车上可以稳定的作业，b简单的对集成电路芯片进行晃动，无法模拟汽车在颠簸路面上行驶时对集成电路芯片的冲击力度，影响集成电路芯片测试的效果。
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“新能源汽车集成电路芯片测试系统及其测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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