本发明涉及一种嵌入式
芯片测试插座，包括探针保持板和金属外框，金属外框上阵列设置有多个安装孔，安装孔内安装有嵌入式芯片定位板，嵌入式芯片定位板的四周边上设置有台阶，安装孔在靠近上表面一侧设置有抵触所述台阶的凸台，嵌入式芯片定位板上设置有阵列分布的定位孔，探针保持板上设置有与定位孔对应的保持孔，定位孔和保持孔配合固定有测试探针，嵌入式芯片定位板采用
复合材料，金属外框达到增强测试插座强度的目的，同时又保证了插座的电气性能；还能在一定程度上杜绝测试过程中晶粒间的电磁干扰；金属外框的变形量要小于传统测试插座，当测试探针数量大于1500根时，测试插座表面变形量仍然能满足不大于0.05MM的要求。
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来源：北方有色网
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