本发明基于激光片光成像的粒子场全场测量方法及其测量装置,特征是采取互相正交的激光片光照明测试流场中的粒子,采用两个CCD摄像头分别获取垂直于流场方向截面内粒子的像以及平行于流场方向平面内粒子的运动轨迹图象,通过识别粒子的像和统计分析其所占象素的多少确定其等效直径的大小,分析识别粒子的运动轨迹图确定粒子运动速度的大小及其方向,给出成像平面内粒子的尺度谱和速度场分布。本发明仅以流场中的粒子为成像对象,无需人为施加示踪粒子,避免了因示踪粒子的施加对流场造成的干扰,可广泛应用于两相或多相流研究中对流场的多参数、全场动态测量,在能源与环境、国防、机械、化工、冶金、医药和食品等领域中具有广阔的应用前景。
声明：
“基于激光片光成像的粒子场全场测量方法及其装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
921
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
