其他其他有色金属理论与应用

绝缘栅双极型晶体管的失效模式检测及保护的系统和方法 883     

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本发明涉及一种包括绝缘栅双极型晶体管（IGBT）的组件，其中的IGBT连接有栅极驱动器，该栅极驱动器用来接收用来驱动所述IGBT的选通信号，并提供所述IGBT的反馈信号，其中所述反馈信号反应了IGBT的集电极-发射极电压的变化。所述组件还包括失效模式检测单元，用来基于所述选通信号和反馈信号的时间顺序来判断所述IGBT是否发生故障，并区分包括这些类型的故障：栅极驱动器故障、开通失败的故障、短路故障、开通过压故障和关断过压故障。

用以检测单个失效点的方法 1241     

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本发明涉及用以检测单个失效点的方法。一种检测单个失效点的方法，包括：将被多个监测装置(102,104,106)监测的机器的一部分置于第一位置上；促使该部分在第一循环期间循环到第二位置；测量在该部分在第一循环期间循环时第一功率供应单元(108)所提供的电功率的成分；使该部分返回到第一位置；促使该部分在第二循环期间循环到第二位置；测量在第二循环期间第二功率供应(110)所提供的电功率的成分；确定在或者第一循环或者第二循环等于或小于最小值的期间所提供的电功率的成分的量；以及产生警告。

燃料电池堆的膜失效和燃料电池系统构件缺陷的早期检测方法 1075     

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本发明涉及燃料电池堆的膜失效和燃料电池系统构件缺陷的早期检测方法，具体提供了用于确定燃料电池堆的燃料电池中可能的膜失效的系统和方法。该方法包括监测堆电流密度和堆中燃料电池的最小电池电压。如果最小电池电压和堆电流密度均小于预定值，则该方法用最小电池电压的比例因子乘以堆电流密度的比例因子来提供膜失效因子。如果膜失效因子大于阈值，则给出可能的膜失效的提示。

检测失效摩擦元件的系统和方法 1128     

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检测失效摩擦元件的系统和方法。系统包括摩擦元件，其包括驱动机构和被驱动机构。驱动机构和被驱动机构中的至少之一被配置为发生旋转。驱动单元被配置为向驱动机构和被驱动机构中的至少之一提供扭矩。控制处理器被配置基于滑动速度诊断摩擦元件失效，所述滑动速度为驱动机构和被驱动机构的旋转速度之间的差值。控制处理器进一步被配置为引发作为换挡过程的一部分的滑动状况，并当引发滑动状况之后推导出的滑动速度大致为零时，诊断摩擦元件失效。

继电器失效的检测电路 939     

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本发明提出一种继电器失效的检测电路，其包含：一输出侦测电路以及一判断比较电路。输出侦测电路耦接一继电器模块，继电器模块于失效时输出一输出电压讯号至输出侦测电路；输出侦测电路依据输出电压讯号及回路阻抗而产生一侦测电压讯号；判断比较电路系耦接输出侦测电路的一输出端，并依据输出电压讯号与继电器模块的输出阻抗变化及参考电压而输出一失效讯号。本发明藉由将习知逆变器中的输出侦测电路作为本发明的取样电路，以达到不需额外电路即可判断继电器失效的功效。

DC-DC电源转换器以及检测其失效模式的方法和系统 816     

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本发明题为“DC‑DC电源转换器以及检测其失效模式的方法和系统”。本申请涉及DC‑DC电源转换器以及检测其失效模式的方法和系统。操作DC‑DC电源转换器的一种示例性方法包括：由照明微控制器命令电源转换器控制向经由电感器耦接到所述电源转换器的发光二极管(LED)提供的平均电流；由所述照明微控制器从所述电源转换器读取值；以及由所述照明控制器基于所述值来检测所述电源转换器的一种或多种失效模式。

检测层叠的半导体管芯之间的接合失效的方法 957     

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检测层叠的半导体管芯之间的接合失效的方法。提供一种检测半导体管芯层叠件的接合失效的方法。该方法可包括以下步骤：提供半导体管芯层叠件，所述半导体管芯层叠件包括基底基板、层叠在所述基底基板上的下半导体管芯以及与所述基底基板相对地层叠在所述下半导体管芯上的上半导体管芯。所述下半导体管芯可包括第一硅通孔TSV。可向所述基底基板的与所述下半导体管芯相对的底表面提供热。可获得所述上半导体管芯的与所述下半导体管芯相对的顶表面的热成像图像。可利用所述热成像图像，基于所述热成像图像的与所述第一TSV的区域对应的区域之间的温度差来辨别在所述半导体管芯层叠件中是否存在接合失效。

具有制动器失效检测的车辆制动系统 1151     

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本发明涉及一种具有制动器失效检测的车辆制动系统和检测车辆制动系统的制动器失效的方法，所述车辆制动系统具有易受制动器失效影响的车轮制动器，该方法包括：(a)提供包括车轮制动器的制动系统；和(b)利用自适应基准脉谱图确定车辆系统内制动器失效的存在，并且其中自适应基准脉谱图包括在直方图中保存不同压力点处的车辆减速度数据和制动系统流体体积。

检测紧急传感器失效的方法和装置 1137     

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提供一种用于检测处理传感器的紧急失效的方法400。所述方法包括确定406传感器输出噪声分量,根据传感器的量程范围和处理工作条件中的至少一个,比较408输出噪声分量和历史传感器输出噪声特征。

用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化 1234     

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本发明涉及用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化，具体涉及一种用于自检荧光计的失效或性能恶化的系统和方法，包括安装在载体上以相对于一个或多个固定荧光计移动的荧光参考标准物。使用所述荧光计初始测量所述荧光参考标准物的荧光发射强度，并且在荧光计使用了一段规定时间后，使用荧光计测定荧光标准物的荧光发射强度的测试量值。将所述测试量值与所述初始量值相比较，并且基于所述测试量值与所述初始量值的偏差确定所述荧光计的失效或性能恶化。

IGBT的失效检测方法和装置 1004     

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本发明提供了IGBT的失效检测方法及装置，其中，包括：检测所述IGBT的当前集电极电流和当前饱和导通压降；基于一个预警温度值下的所述IGBT的第一集电极电流和第一饱和导通压降的第一对应关系，查询所述IGBT的当前集电极电流所对应的第一饱和导通压降；比较所述IGBT的当前饱和导通压降和所述对应的第一饱和导通压降，当所述IGBT的当前饱和导通压降高于所述对应的第一饱和导通压降时，则判断IGBT有失效可能；计算所述IGBT的当前热阻值，当所述IGBT的当前热阻值与预设的初始热阻值的比值高于一个预警系数时，则确定IGBT失效。本发明提供的IGBT的失效检测方法效率更高，维持费用低，并具有更高的可靠性，有利于环保，并降低了功耗。

失效检测与分类模型的运作方法与运作装置 879     

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一种失效检测与分类模型的运作方法与运作装置。失效检测与分类模型的运作方法包括以下步骤。连续获得数张检测曲线图。判断这些检测曲线图是否已由一第一波形变更为一第二波形。若这些检测曲线图已由第一波形变更为第二波形，则判断这些检测曲线图中是否至少N张变更为第二波形。若这些检测曲线图中至少N张变更为第二波形，则自动切割变更为第二波形的这些检测曲线图，以获得数个视窗。对各个视窗自动设定一算法。通过各个算法，获得各个视窗之一指标数据。依据这些指标数据对失效检测与分类模型进行再训练。

SDH/SONET网络域中检测和定位“带内”路径失效的方法和帧 1074     

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本发明涉及一种SDH/SONET网络域中带内路径失效的检测和定位方法,该网络包括至少一个网络域,该方法的步骤包括:定义至少一个路径(PATH),通过该路径发送SDH/SONET帧,该方法的特征在于,对POH的K3字节进行编码,以用于SDH技术,或者多STS1 POH的Z4字节进行编码,以用于SONET技术。对字节K3或Z4的1-6位进行编码,以便提供表明检测失效节点的节点标识符,远端错误指示信息和关于失效是网络域内部的还是外部的信息。

燃料电池堆中的膜和电极失效的检测方法 806     

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本发明涉及燃料电池堆中的膜和电极失效的检测方法。一种确定燃料电池堆中的燃料电池内的膜失效的方法。所述方法包括:测量所述燃料电池堆中每个燃料电池的电压,从所述燃料电池堆内的所有所述燃料电池的电池电压来计算平均电池电压,以及从所述燃料电池堆内的所有所述燃料电池的电池电压中识别出最小电池电压。之后所述方法确定绝对δ电压值,该绝对δ电压值是采样周期内多个采样点处所述燃料电池的所述平均电池电压和所述燃料电池的所述最小电池电压之间的差值。针对低电流密度被滤波的在多个采样周期内确定的多个绝对δ电压值被用于确定是否存在膜失效,并且通过针对高电流密度滤波来确定是否存在电极失效。

检测半导体晶片上局部失效的测试方法 1273     

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本发明公开了一种用于测试包括半导体芯片的晶片的方法。与晶片上过滤失效半导体芯片的空间相关组相关地确定晶片是否有缺陷,其中所述空间相关组对应于晶片上的局部失效且用来计算缺陷指数值。

用于非对称隔离监测器失效检测的装置和方法 1031     

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本申请涉及用于非对称隔离监测器失效检测的装置和方法。在至少一个实施例中，提供了用于监测车辆中的隔离电阻的装置。该装置包括至少一个控制器，其被配置为对多个开关中的任意数量的开关执行激活和去激活中的至少一种，并对高压系统执行多次测量。该至少一个控制器还被配置为基于多次测量来确定高压系统和低压系统之间的隔离电阻，并至少基于该隔离电阻来确定正支路和低压系统的接地之间的第一电阻。该至少一个控制器还被配置为至少基于第一电阻来确定高压系统的隔离电阻是表现出对称失效还是非对称失效。

聚合物挤出组件和用于检测聚合物挤出组件中的切割机刀片失效的方法 994     

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本发明涉及聚合物挤出组件和用于检测聚合物挤出组件中的切割机刀片失效的方法，所述组件包括：和挤出机板、可旋转切割机组件、结构化光、检测机构、重建机构和能够分析所述图像的分析机构。本发明允许口模板和刀具组两者的在线情况监测。

切换失效的检测方法 1271     

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本发明公开一种切换失效的检测方法,应用在具有BMC及IPMI的系统,该方法包括:在该系统开机且供电至BMC后,该BMC执行FRB3机制,且依据BMC读取到的BIOS程序代码而取消FRB3机制,并同时启动计时处理;以及在计时达到一预定时间值时,判断BMC是否已启动FRB2机制,若未启动,则建立失效记录并予以储存。本发明提出的切换失效的检测方法主要解决FRB2及FRB3两种错误弹回机制FRB3与FRB2切换发生当机的问题,通过计时处理技术可在当机时取得当机信息并建立一笔失效记录,确保当机时系统人员能及时排除当机状况,增加了系统的稳定性、增加当机后分析解决问题的能力及避免系统持续处于当机状态。

用于检测弹簧和稳定杆相关劣化和失效的车辆检测和隔离系统 827     

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用于检测弹簧和稳定杆相关劣化和失效的车辆检测和隔离系统。用于测试车辆的悬架系统的系统包括惯性测量模块和悬架故障检测模块。惯性测量模块被配置为当车辆不移动时，从用于悬架系统的不同状态的一个或多个惯性测量传感器收集传感器数据。传感器数据指示当悬架系统处于不同状态中的每个状态时车辆的惯性状态。悬架故障检测模块被配置为基于传感器数据和一组阈值，确定悬架系统是否存在故障，隔离并识别故障，并基于故障的检测来执行对策。

具有失效检测器的绝缘状态检测单元 803     

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一种绝缘状态检测单元构造成：通过利用根据可变值的失效判定阈值执行对于开关的失效检测，所述开关将快速电容器连接至用于获取充电电压的取样保持电路和地电位。也就是说，绝缘状态检测单元构造成：当快速电容器被充以与DC电源的输出电压对应的电荷量时，通过把被充以与快速电容器的充电电压相对应的电荷量的取样保持电路的电容器的充电电压作为基准来确定失效判定阈值。

用于在失效操作之后检测高速缓冲存储器中的有效指示符中的位翻转的高速缓冲存储器错误检测电路，以及相关方法和基于处理器的系统 878     

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本文所揭示的方面包含高速缓冲存储器错误检测电路，用于在失效操作之后检测高速缓冲存储器中的有效指示符(例如有效位)中的位翻转。还揭示相关方法和基于处理器的系统。如果高速缓存命中是因失效操作之后对高速缓存条目的存取而产生，那么所述高速缓存条目的有效指示符中已发生位翻转。这是因为在所述高速缓存条目的所述失效操作之后，所述有效指示符应指示无效状态，而非有效状态。因此，高速缓冲存储器错误检测电路经配置以确定是否对所述高速缓存条目执行失效操作。因此，所述高速缓冲存储器错误检测电路可致使产生所存取高速缓存条目的高速缓冲存储器未中或错误，即使用于所述高速缓存条目的有效指示符因所述位翻转而指示有效状态也是如此。

用于检测熔断器失效的方法和装置 938     

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用于检测保护熔断器(5)的熔断器失效的方法和装置，所述保护熔断器(5)用于保护相关的负载(7)免受过电流和/或过载的影响，所述方法包括以下步骤：通过电流传感器元件(2)测量(SA)在到所述负载(7)的电流路径中流过保护熔断器(5)的电流Im；确定(SB)一个或多个失效指示器FI，每个失效指示器FI适于基于测量到的电流Im来指示保护熔断器(5)的可能失效；以及如果所确定的至少一个失效指示器FI指示保护熔断器(5)的可能失效并且如果由电流传感器元件(2)测量的电流Im已经停止(Im＝0)流过所述保护熔断器(5)或低于预定的电流阈值(Im

检测燃气涡轮机中预定状态的方法和用于燃气涡轮机的失效检测系统 818     

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本发明涉及一种检测燃气涡轮机（10）中预定状态的方法，并涉及一种用于燃气涡轮机（10）的失效检测系统。本发明分析来自燃气涡轮机（10）的燃烧系统（22）内部或外部/下游的不同位置（42，32）的瞬时温度读数，这是通过计算预定的时间周期内每个测量位置（42，32）的变化量进行的（130）。选择一个测量位置的变化量，然后将其与阈值进行比较，该阈值基于其它测量位置的其它变化量中的至少两个变化量（140，150）。如果所述一个选择的变化量变得大于一阈值，检测到出现了预定状态（170，180）。

用于可靠性试验的速度老化能力的带有自我试验的成品率增强的失效分析载体 1207     

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一种用于评估集成电路的制造工艺的试验载体,该载体用所设置的库驱动元件的更高效率的空间布局产生实施许多互连的电路,这些互连可以在制造工艺的最小设计参数下设计。这些元件可以设置成作为环振荡器工作,提高允许更高的频率电路试验的试验模块的有效电路频率,以及缩短用于进行寿命循环试验的时间。明显地对元件进行标记,并结合电隔离错误易发的电路节段使缺陷的识别的效率更高许多试验方法的可获得使根致失效的定位更快捷,进一步改进了制造工艺。

关于分析半导体器件失效的剥层处理方法 894     

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一种分析半导体器件多晶硅接点断开失效和接点偏离的剥层处理方法,它包括下列步骤:除掉包含存储单元的晶片上的钝化层和双金属层;利用等离子干腐蚀方法,选择地除掉形成电容器的多晶硅和形成位线的多晶硅的上层部分;利用含HF的腐蚀剂进行湿腐蚀,以便露出场氧化层,同时留下位于晶片上的形成位线的多晶硅和形成电容器存储节点的多晶硅的下部。

基于机器学习分析图像伪影和成像系统失效的方法和系统 1142     

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本发明题为“基于机器学习分析图像伪影和成像系统失效的方法和系统”。本发明公开了用于解决医疗成像设备的误动作的方法和系统。该方法包括通过使用已训练的机器学习模型对由医疗成像设备获取的医疗图像中的图像伪影的类型进行分类。该方法还包括分析与医疗图像的获取相关联的系统数据，以识别可能对该类型的图像伪影有贡献的一个或多个系统参数；以及基于所识别的一个或多个系统参数来提供用于解决图像伪影的动作。

半导体器件中失效分析的结构和方法 1247     

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本发明公开了一种半导体失效分析的分析结构和方法。所述结构包括:多个分析场,设置于半导体器件的预定的区域上;半导体晶体管,设置于每个所述分析场中,所述半导体晶体管设置为阵列;字线,设置于所述多个分析场的每个上,在第一方向将所述半导体晶体管彼此连接;和位线结构,在所述多个分析场的每个上,在第二方向将所述半导体晶体管彼此连接,其中,所述位线结构在所述多个分析场的每个中配置为不同的图案。

数据失效的聚合分析和补救 977     

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本公开涉及这样的处理操作：其评估数据失效的影响，并基于数据失效对应用/服务的操作的影响的评估结果来管理数据失效的补救。可以聚合和分析所识别的数据失效。在一个非限制性示例中，在时间计数上聚合数据失效类型以识别近期的数据失效。数据失效的所聚合类型的分析包括评估在时间计数内识别的数据失效类型的强度。可以在时间计数期间基于识别对通过应用/服务的内容呈现的影响的强度分析来对识别的数据失效进行排列。可以基于排列处理来管理数据失效的补救。例如，可以对一个或多个数据失效进行优先处理以进行补救处理以纠正与错误相关联的底层数据结构。

用于操作活塞式发动机的方法和用于检测汽缸盖垫片失效的布置 1084     

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提供了一种用于操作活塞式发动机(1)的方法，该方法包括以下步骤：监测被用于冷却所述发动机(1)的汽缸(5)的冷却液的压力；监测所述发动机(1)的曲轴的扭转振动；比较所测量的冷却液压力与预定极限值；比较所测量的扭转振动与预定极限值；以及在所测量的冷却液压力超过其预定极限值并且所测量的扭转振动超过它们的预定极限值的情况下，诊断出泄漏的汽缸盖垫片。

电压超调对介电失效/击穿的影响的分析实验估计器 1008     

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本发明涉及一种电压超调对介电失效/击穿的影响的分析实验估计器。一种方法测试集成电路器件以测量电压超调状况。所述方法确定超调时间比例。所述超调时间比例是在所述集成电路器件的整个有用工作寿命期间，发生电压超调状况的时间量相对于发生正常工作状况的时间量。所述方法还确定超调失效比例。所述超调失效比例包括在所述电压超调状况期间发生的介电失效量相对于在所述正常工作状况期间发生的介电失效量。所述方法基于所述超调时间比例和所述超调失效比例计算允许的超调电压。所述方法附加地计算电压波形的平均超调电压并将所述平均超调电压与所述允许的超调电压进行比较，从而确定所述平均超调电压是否超过所述允许的超调电压。