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工作原理
设备采用锥形束X射线源穿透工件，平板探测器接收透射信号生成二维投影图像。通过蔡司专利的FDK（Feldkamp-Davis-Kress）三维重建算法，系统将多角度投影数据转化为高精度三维模型。METROTOM 1500搭载AMMAR（高级混合材料伪影减少）技术，可有效抑制金属-塑料过渡区域的散射伪影；METROTOM 1则通过动态扫描模式优化小工件检测效率，确保微米级测量精度。
应用范围
METROTOM 1：适用于电子元件（如PCB焊点空洞、芯片封装分层）、医疗植入物（钛合金假体孔隙率）、精密模具（微型齿轮气孔）等小尺寸工件检测。
METROTOM 1500：覆盖汽车零部件（发动机缸体裂纹、变速箱齿轮内部缺陷）、航空航天部件（涡轮叶片冷却通道、复合材料脱粘）等中大型工件分析。
两款设备均支持批量扫描与CAD数据比对，助力研发阶段失效分析及生产线全检。
技术参数
METROTOM 1：
测量范围：直径200mm×高度200mm
分辨率：≤5μm，尺寸精度达5+L/100μm
扫描时间：单件≤5分钟（动态模式）
METROTOM 1500：
测量范围：直径700mm×高度750mm
分辨率：4μm，精度4.5+L/50μm（VDI/VDE 2630认证）
特殊功能：VHD虚拟水平探测器、自动工件分离
产品特点
无损高精度：微米级分辨率可检测0.01mm²缺陷，避免传统破坏性检测的局限性。
多材料兼容：优化X射线能量，适配塑料、金属及复合材料，如铝合金转向节内部裂纹检测。
智能软件：ZEISS INSPECT X-Ray支持自动缺陷识别、GD&T分析及趋势报告生成。
高效灵活：METROTOM 1紧凑设计节省空间；METROTOM 1500支持多工件同步扫描，缩短检测周期。
安全可靠：全防护结构符合CE标准，配备辐射监测与应急停止功能。
综合效益：降低返工成本，提升产品合格率，助力企业实现智能化质量管控。
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