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工作原理：
XU - 100基于X射线荧光光谱分析技术。仪器发射出X射线照射到样品表面，样品中的镀层元素原子内层电子被激发，外层电子跃迁填补内层空位时，会释放出具有特定能量的X射线荧光。这些荧光X射线的能量与镀层元素的种类相关，强度则与镀层厚度和元素含量成正比。仪器配备的高精度探测器收集这些荧光X射线，并将其转化为电信号，经过专业的软件系统分析处理，就能精确计算出镀层的厚度。
应用范围：
在电子行业，可用于检测电路板、连接器等电子元器件上金属镀层的厚度，确保其导电性和耐腐蚀性符合要求；在五金制品领域，能测量螺丝、螺母等五金件表面镀层的厚度，保障产品的耐磨性和美观度；在汽车制造行业，可对汽车零部件的镀层进行检测，提高汽车的安全性和可靠性；在珠宝首饰行业，能精确测量首饰表面贵金属镀层的厚度，维护消费者权益。
产品技术参数：
该仪器测量元素范围广泛，涵盖多种常见金属元素。测量精度高，重复性误差小于1%，测量厚度范围可根据不同镀层材料和需求进行调节，一般可达0.01μm - 100μm。分析速度快，单次测量时间通常在几秒到几十秒内完成。
产品特点：
操作简单便捷，配备直观的人机交互界面，即使非专业人员也能快速上手。仪器稳定性好，采用高品质的X射线源和探测器，经过严格的质量检测和校准，长期使用性能可靠。同时，它还具备数据存储和导出功能，方便用户对测量数据进行管理和分析。此外，XU - 100体积小巧，占地面积小，可灵活放置在生产车间或实验室，是企业进行镀层厚度检测的理想选择。
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