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工作原理：
基于光谱分析技术：通过可见光或近红外光照射镀层表面，分析反射光谱中波长与光强的变化，结合数据库比对算法，推算出镀层厚度。
应用范围：
覆盖电子制造、新能源、精密仪器及医疗器械等行业。
产品技术参数：
XH4121EFEGES测量范围覆盖0.1纳米至10微米，分辨率0.1纳米，支持多点扫描与区域成像功能。设备配备7寸触控屏，操作界面友好，支持中英文切换，数据可存储并生成测试报告。其光谱分析模块采用高灵敏度CCD传感器，响应时间小于1秒，适应高速生产线需求。
产品特点：
采用非破坏性光谱检测技术，避免样品损伤；内置近万种材料光谱数据库，支持快速匹配与校准；支持多层镀层同时测量，可解析同元素不同层的分布；整机结构紧凑，适应实验室与生产线场景。此外，设备还具备自动对焦与三维扫描功能，可检测凹凸、弧面等复杂形态的镀层厚度。
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