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工作原理：
基于机械接触式测量技术：将待测样品置于下测量面，上测量面以恒定压力（如薄膜测量压力为17.5±1kPa）垂直下压，与样品表面接触后，同测量头一体的位移传感器实时检测上下测量面间距，通过算法将位移数据转换为厚度值。
应用范围：
涵盖塑料薄膜（如BOPP、PET）、金属箔片（铝箔、铜箔）、纸张（卡纸、复合纸板）、纺织材料（无纺布、医用口罩）及电子绝缘材料等领域。
产品技术参数：
C640提供两种型号：C640M标配测量范围0-2mm，分辨率0.1μm，重复性0.8μm；C640H型号重复性提升至0.4μm，满足更高精度需求。用户可选配扩展测量范围至0-6mm或0-12mm，测量间距0-1000mm可调，进样速度1.5-80mm/s可设定。
产品特点：
采用超高精度位移传感器，重复性优于行业同类设备；支持薄膜与纸张双模式测量压力切换（薄膜17.5kPa/纸张100kPa），适配不同材质特性；智能控制软件具备多点标定功能，优化线性度；符合ISO 4593、ASTM D6988、GB/T 6672等国际标准，满足医药包装GMP认证需求。
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