UM-3高精度测厚仪
UM-3高精度测厚仪是本公司推出的第一代专门用于薄件厚度测量的超声波测厚仪，具备极高的测量精度和广泛的适用性。该设备测量下限低至0.3mm，精度可达小数点后三位，分辨率为0.001mm，测量范围为0.3-20mm，特别适合平整的薄金属板、玻璃板等薄件的厚度测量。它配备128x64点阵图形液晶屏，带有EL背光，显示清晰，操作便捷。UM-3还设有5个数组，可存储500个厚度值，支持中文和英文两种语言选择，满足不同用户需求。工作温度范围为-10°C~+50°C，特殊要求下可扩展至-20°C。此外，设备可存储5种不同材料的声速，进一步增强了其通用性和灵活性。
UM-3超声波测厚仪是本公司生产的第一代针对薄件厚度测量的超声波测厚仪 测量下限0.3mm，精确到小数点后三位； 应用范围： 适合测量平整的薄金属板、玻璃板等
0.001mm分辨率测量范围:0.3-20mm
128x64点阵图形液晶屏(EL背光)
划分5个数组，可存储500个厚度值
适合薄件测量
可选择中文或英文
工作温度:-10°C~+50°C((有特殊要求可达-20°C)
可存储5种不同材料的声速
518 
咨询底价
