有色金属物理检测设备

光学膜厚测量仪 290     

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Filmetrics F3-CS是一款专为微小视野及样品设计的薄膜厚度测量仪，适合生产线操作人员和技术人员使用。具备自动基准校正功能，简化了测量前的搭建和校准过程。用户只需设定薄膜上下层信息即可进行测量，支持数百种膜层类型，并能处理透明和不透明基材。通过升级FILMeasure软件，还可扩展反射率测试功能。该设备兼容多种操作系统，采用USB线实现电源供应及通信连接，提供全面的技术支持和服务。

薄膜厚度测量仪 246     

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使用Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪。使用先校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。

自动Mapping膜厚测量仪 246     

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Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统，可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪配置精度高使用寿命长的移动平台，以求能够做成千上万次测量。

椭圆偏振光谱仪 404     

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Auto SE是一款集成了液晶调制技术和反射式微光斑的全自动快速椭偏仪，具备高重复性和信噪比，适用于多种样品的快速薄膜测量与质量控制。其一键式操作界面简化了数据处理流程，同时提供自动MAPPING扫描功能以评估样品镀膜均匀性。该设备兼容200mm×200mm样品台，覆盖450-1000nm光谱范围，适合科研与工业生产中的非均匀及图案化样品测试需求。

白光干涉膜厚测量仪 344     

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Filmetrics F54 白光干涉膜厚测量仪能以一个电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.只需具备基本电脑技能，就可在数分钟内自行建立配方。

薄膜厚度测量仪测厚仪 355     

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Filmetrics F80-C膜厚测量仪采用厚度成像技术，提供快速、准确且经济的薄膜厚度测量解决方案。该设备无需复杂的移动硬件，能在29秒内完成300毫米晶片的21点扫描，适用于化学机械抛光、化学气相沉积等多种工艺。其自动化和直观的操作界面减少了人为错误，降低了成本，是晶片追踪工艺工程师的理想选择。

光学膜厚测量仪 248     

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美国Filmetrics公司的F60-C光学膜厚测量仪采用r-θ极坐标移动平台，能快速准确地测量各种晶圆尺寸上的薄膜厚度和光学常数n&k，适用于多种材料如氧化硅、氮化硅等。该设备支持自定义测试点，并能在短时间内完成大面积分布图测量，提供便捷的在线演示与技术支持服务。

薄膜厚度测量仪 241     

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F10-RT 薄膜厚度测量仪通过同时测量反射和透射光谱，实现真空镀膜的全面分析，具有成本低、操作简便、分析功能强等特点。此外，它还提供可选模块扩展功能，并配备完善的售后服务和技术支持。

单点光学膜厚测量仪 466     

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Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪是一款先进的膜厚测量系统，能够测量从1nm到10mm的膜厚，并且可以同时测量折射率、反射率和穿透率。适用于单层或多层膜，无论是在平面还是弯曲表面，光斑最小可达20微米。F20具有模块化设计，易于安装和操作，通过USB连接电脑后，能在数秒内得出测量结果。其适用范围广泛，几乎涵盖了所有光滑、半透明或低吸收系数的薄膜材料，包括各种电介质、半导体材料等。该设备配备用户友好的软件界面，提供24小时电话、电子邮件和在线支持，确保用户能够高效准确地进行膜厚测量。

光学膜厚测量仪 346     

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Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪是一款结合显微镜的薄膜测量系统，能够快速准确地测量薄膜的厚度和光学常数。该设备特别适用于需要在微小限定区域进行测量的应用，并且可以与市面上大多数显微镜连接使用。其优势包括桌面式设计、24小时技术支持以及直观的分析软件等。适用于半导体制造、生物医学原件、液晶显示器等多个领域的薄膜厚度测量。

多波长椭偏仪 250     

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第四代FilmSense FS-8 多波长椭偏仪使用长寿命的LED光源和无移动部件的椭圆偏振探测器。在便携的紧凑型系统中提供快速而可靠的薄膜测量。通过简单的1秒测量，可以以很高的精度和准确度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率，并对样品进行光学常数、n&k值等薄膜性质的测量。

桌上型主动式隔振台 400     

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mini桌上型主动式隔振台采用全新设计，具备全频段出色的抗振动效果及六自由度主动减振功能。其LCD屏幕能显示加速度波形和频谱，并支持洁净室环境使用。设备自带自动调平与固定模式，且可通过USB接口进行数据传输和监控。适用于原子力显微镜、扫描探针显微镜等多种精密测量仪器。

金属硬度计测试仪 266     

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FY310 是济南方圆试验仪器有限公司推出的 便携式里氏硬度计，专为金属材料硬度检测设计。该设备依据里氏硬度测量原理，可快速、无损地测量多种金属材料的硬度值，并支持布氏（HB）、洛氏（HRC）、维氏（HV）、肖氏（HS）等多种硬度制式转换。其一体化设计集成高速热敏打印机，可现场即时打印检测报告，适用于实验室、生产线及野外作业场景。

白光共聚焦显微镜 356     

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KLA Zeta-20白光共聚焦显微镜基于ZDot技术而来。Zeta-20 白光共聚焦显微镜可以对大部分材料和结构进行成像分析，从光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。KLA Zeta-20白光共聚焦显微镜使用模块化设计理念，为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求，所有硬件安装和操作都简单易用。

白光共聚焦光学轮廓仪 448     

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KLA Zeta-388光学轮廓仪是非接触式三维表面形貌测量系统。该系统在Zeta-300光学轮廓仪的基础上，增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。Zeta-388光学轮廓仪采用ZDot技术和多模组光学系统，可测量各种不同的样品：包括透明与不透明、低至高反射率、光滑到粗糙的表面，以及亚纳米级到毫米级的台阶高度。KLA Zeta-388光学轮廓仪支持OCR和SECS/GEM，从而可用于全自动产线的生产制造。

金相低速精密切割机 220     

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SQ-80 是济南方圆试验仪器有限公司推出的 金相低速精密切割机，专为金相试样截取与材料精密下料设计。该设备通过 低转速（2800转/分钟）与高刚性主轴 结合，实现金属、非金属材料的平稳切割，避免高速切割导致的组织损伤。配备 循环冷却系统 与 全封闭防护结构，确保操作安全与试样质量，适用于冶金、汽车、航空航天等领域的实验室及生产线。

椭圆偏振光谱仪 375     

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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪适用于单层和多层薄膜的精确表征和分析。该设备具备多角度测量能力，可灵活配置，并支持在线与离线模式切换。其技术参数包括450-1000nm的光谱范围和多尺寸微光斑自动选择光斑可视技术。主要特点是一键式操作、无运动部件的液晶调制技术和快速全谱输出的CCD探测系统。此外，它还支持多个微光斑尺寸选择和多角度测量，能够实现在线测量配置。

双目倒置式金相光学显微镜 202     

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FY4XB 是济南方圆试验仪器有限公司推出的 双目倒置式金相光学显微镜，专为金属材料组织结构分析、铸件质量鉴定及表面缺陷检测设计。其核心优势在于 倒置式结构（试样观察面与工作台重合），突破试样高度限制，操作便捷且稳定性高。设备配备 平场消色差物镜（10X-100X） 和 平场目镜（10X/12.5X），总放大倍数覆盖 100X-1250X，支持明场/暗场观察模式，广泛适用于工厂、科研院所及高校实验室。

拉曼光谱仪 271     

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HORIBAScientific推出的LabRAMHREvolution是一款高性能拉曼光谱仪，融合智能自动化与多项技术，适用于研究与常规分析。其波长范围覆盖200-2100nm，支持全波长自动切换，具备高光谱分辨率和超低波数检测能力（低至10cm⁻¹）。配备真共焦显微光路和双光路设计，实现快速UV-VIS/NIR切换及高空间分辨率成像。搭配LabSpec6软件，提供强大的数据处理与分析功能，支持多种附件扩展，满足多样化样品测试需求。

无级变速双盘研磨抛光机 259     

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MP-2B 是济南方圆试验仪器有限公司研发的 无级变速双盘研磨抛光机，专为金相试样制备设计，集预磨、研磨、抛光功能于一体。其核心优势在于 双盘独立无级调速（50-1000r/min），可同时满足两人操作需求，大幅提升制样效率。设备配备 水冷却装置，有效防止试样过热导致金相组织破坏，适用于金属、合金、陶瓷等材料的精密加工，是工厂、科研院所及高校实验室的理想制样设备。

电脑型工业高精密测量电子显微镜 300     

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XJP-6A 是济南方圆试验仪器有限公司研发的 电脑型工业高精密测量电子显微镜，集光学放大、图像采集、尺寸测量与数据分析于一体，专为工业检测、材料分析、质量控制等领域设计。该机型采用无限远光学系统与高分辨率CCD传感器，支持明场/暗场观察模式，配合专业测量软件，可实现微米级精度（分辨率达 0.1μm）的二维尺寸测量与形貌分析，广泛应用于电子、机械、冶金、科研等行业。

光反射式膜厚仪 345     

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Filmetrics F32 光反射式膜厚仪特殊的光谱分析系统采用半宽的3u rack- mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本至多两个位置)。F32膜厚仪软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。还提供可选的透镜组件，以便于集成到现有的生产装置上。

自动光反射膜厚仪 289     

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Filmetrics F60-t 自动光反射膜厚仪就像我们的F50白光干涉膜厚测量仪产品一样。主要测绘薄膜厚度和折射率。但它增加了许多用于生产环境的功能。这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及可以升级到全自动化晶圆传输的机型。

自动光学膜厚测量仪 470     

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Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

热缩试验仪 351     

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RSY-01热缩试验仪专业适用于各种热收缩薄膜、电池隔膜、热缩管、药用PVC硬片等各种收缩薄膜材料在多种温度下的进行热收缩性能及尺寸稳定性的测试。

电池隔膜测厚仪 267     

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电池隔膜测厚仪采用机械接触式测量方法，严格符合标准要求，专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料厚度的测量。

薄膜测厚仪 510     

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CHY-CU薄膜测厚仪采用机械接触式测量方法，严格符合标准要求，专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料厚度的测量。

薄膜摩擦系数检测仪 450     

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MCY-01薄膜摩擦系数检测仪适用于测量塑料薄膜和薄片、纸张、橡胶、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节材料生产质量工艺指标，满足产品使用要求。

等压法氧气透过率测试仪 251     

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OGR-G3氧气透过率测试仪为库仑电量法测试原理，适用于各种塑料薄膜、复合膜、铝箔复合膜、镀铝膜、PVC硬片、药用铝箔、共挤膜、流延膜等材料氧气透过率的测定。通过对氧气透过率的测定，达到控制与调节包装材料阻隔氧气的技术指标。

透气度测试仪 500     

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TQY-02透气度测试仪采用压差法测试原理，专业适用于电池隔膜、透气膜等各种材料及相关高分子材料聚合物的气体透过率与阻隔性能测试。