本发明提供了一种传感器寿命评估方法及装置，所述方法包括：根据待测传感器的工作环境特性获取环境模拟条件；根据所述环境模拟条件对所述待测传感器进行环境应力考核，并记录所述待测传感器在该环境模拟条件下的性能参数；根据记录的性能参数获取所述待测传感器的性能参数变化趋势，继而结合所述性能参数变化趋势以及该待测传感器的失效阈值进行计算得到所述待测传感器在该环境模拟条件下的预期寿命。通过实施本发明实施例能够有效简化传感器寿命评估操作，从而有效减少传感器寿命评估的周期。
声明：
“传感器寿命评估方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1249
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
