本申请提供了一种修复存储
芯片的方法和装置，涉及计算机领域。该方法包括：获取芯片的自检参数，并根据自检参数对芯片进行修复操作，其中，自检参数包括温度和失效信息，失效信息又包括失效数据单元的地址和失效数据单元的检错信息。通过根据自检参数对芯片进行相应的修复操作，能够更好地发挥修复作用，提高修复效果，从而提高芯片的健壮性。
声明：
“修复存储芯片的方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1067
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
