本发明公开了一种包含机械应力加速的压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏试验方法，通过加大压接式IGBT器件的夹持力，将原先需要1000h的压接式IGBT器件高温反偏试验时间缩短到了197.64h，极大缩短了试验时间。将IGBT器件放置在恒温箱中，温度恒定在150℃；同时向集电极和发射极之间施加电压V
CE(取最大电压V
CE‑max的80％)；栅极电压V
GE保持为零；同时施加机械压力，使机械压强P
test保持在2Gpa。持续197.64h后，降温至室温，撤去电压和外加的机械压力，再按照国际标准IEC60747‑9(2007)中规定的晶体管参数检测方法和耐受试验失效标准，诊断该器件是否失效。
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“包含机械应力加速的压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏试验方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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