本发明提供提供了电子系统的剩余寿命评估方法、装置和系统，其中，所述电子系统至少包括一个电子元器件，所述电子系统的剩余寿命评估方法包括如下步骤：S1，按照每个时间间隔采集所述电子系统的应力信息，并对一个时间段内的所述应力信息数据汇总以获得应力因素；S2，基于应力因素和失效率算法获得所述系统的每个元器件的失效率，从而计算系统的失效率；S3，基于系统失效率和系统平均无故障时间获得所述系统的可靠性寿命，以获得所述时间段内的系统累积损伤率；S4，基于所述系统的额定寿命或者疲劳寿命计算所述系统的剩余寿命。本发明可扩展性好，造价低，不仅能够实时预测电子系统的剩余寿命，还能够检测电子系统工作中的意外情况。
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“元件、功能模块和系统的剩余寿命评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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