一种晶片筛选方法，包括：提供待封装晶圆，所述待封装晶圆包括若干晶片；对若干所述晶片进行失效检测，在所述若干晶片中获取第一失效晶片和初始通过晶片；获取所述初始通过晶片在待封装晶圆中的第一位置信息；对若干所述晶片进行风险检测，在所述若干晶片中获取第一风险晶片；获取第一风险晶片在所述待封装晶圆中的第二位置信息；当所述第一风险晶片在所述待封装晶圆中的第二位置信息与初始通过晶片在待封装晶圆中的第一位置信息相同时，标记所述初始通过晶片为第二失效晶片。所述方法能够提高出货良率，降低报废率。
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来源：北方有色网
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