本发明公开一种航天电子产品的空间辐射可靠性评估方法，该方法包括故障物理分析、建立空间辐射相关故障信息矩阵并分类收集所述物理模型的参数、单粒子效应仿真、总剂量效应仿真、位移损伤效应仿真、以及考虑空间故障机理间的相互关系，分析单粒子效应、总剂量效应和位移损伤效应单独作用下的被测器件仿真寿命，获得被测器件在空间辐射环境效应共同作用下的失效寿命。本发明是从故障机理的角度，针对航天电子产品空间辐射相关的可靠性展开研究，提出一套基于仿真分析的评估航天电子产品空间辐射可靠性的方法，使设计者能够在设计阶段就对产品的空间辐射可靠性水平直观了解，从而为产品的设计改进提供参考依据。
声明：
“航天电子产品的空间辐射可靠性评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
907
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
