本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备。所述方法包括：获取待修补集成电路的失效测试单元数据；根据所述失效测试单元数据并结合由深度学习网络构建的类型分析模型获取所述待修补集成电路的失效单元分布类型；根据所述失效单元分布类型在修补算法库中获取各候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标，并将所述修补性能指标最优的所述候选修补算法确定为目标修补算法。本公开使得对每个待修补集成电路的修补均可达到修补率最高、修补电路的使用数量最少、修补分析时间最短等，同时提高了修补效率和准确率，同时也降低了修补成本。
声明：
“集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1149
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
