本发明提供了一种后处理系统老化预测方法及装置，方法包括实时统计SCR上游温度在预设的不同温度区间内的累积时长；在SCR失效后，将各个温度区间内的累积时长，与预设的各个温度区间对应的老化速率相乘，得到各个温度区间的热老化能量；并将各个温度区间的热老化能量相加，得到SCR实际受到的热老化能量；根据SCR实际受到的热老化能量与预设的SCR的耐热老化阈值的大小关系，确定后处理系统是否热老化；进而在确定后处理系统热老化后，进行后处理系统更换提示。实现了对后处理系统的老化预测，并及时提醒用户更换，降低了后处理系统老化导致的排放超标。
声明：
“后处理系统老化预测方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
895
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
