本实用新型提供了一种存储
芯片测试电路装置和系统，电路装置包括：至少一个功能模块，设置于存储芯片内；信号倍频单元，设置于存储芯片内，信号倍频单元连接在功能模块和存储芯片的测试输入端之间，用于将测试设备发送的测试信号在存储芯片内部做倍频处理，以生成倍频信号输出至功能模块。各个功能模块接收了倍频信号，输出测试结果信号，根据测试结果信号判断此功能模块是否失效。无需测试设备提供倍频信号，有效降低测试成本。
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来源：北方有色网
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