公开了一种电子产品抗冲击性能测试装置，包括：机架，固定在基座上，所述基座上具有承受电子产品跌落时冲击力的冲击板，所述机架两侧具有轨道；电磁释放器，固定在所述机架顶部；夹具，其顶部吸附在所述电磁释放器上，两端置于所述导轨上；测速装置，用于在所述电磁释放器释放所述夹具后测量所述夹具及其上的电子产品下落速度；以及电子散斑干涉测量系统，用于获得跌落到所述冲击板上的电子产品的形变场。本公开采用电子散斑干涉技术测试电子产品受到冲击时形变场的分布，可有效明确电子产品对于外界冲击力所具有的抵御能力及失效点。
声明：
“电子产品抗冲击性能测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1125
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
