一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，所述测试接口板与控制板连接，所述控制板的输出端与显示器连接；所述控制板包括ADC
芯片，MCU控制器和为非制冷半导体激光器供电的可调驱动电路，所述测试接口板与所述可调驱动电路连接，所述ADC芯片采集所述可调驱动电路的电压信号，并转为数字信号传递到MCU控制器的输入端，所述MCU控制器将所述数字信号进行处理并通过输出端与显示器连接。本实用新型是为了提高非制冷半导激光器的可靠性和稳定性而设计的一种老化测试系统。在高100℃环境下，通过上电老化测试，给非制冷半导体激光器提供一个稳定的受控电流，并实时监测激光器的实际工作电流，以达到可靠性筛选的目的，将早期失效产品滤除。
声明：
“非致冷半导体激光器的老化测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1044
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
