本发明属于密封圈寿命测试技术领域，并具体公开了一种密封圈的寿命测试装置及方法；该种寿命测试装置包括模拟单元、加压单元、连接管路以及控制单元；管路模拟单元设置有至少一个，每个管路模拟单元均包括压力腔体和连接于压力腔体的多个测试管路；加压单元用于施加交变的压力；连接管路连接加压单元，并与所有压力腔体一一相连；连接管路、所有压力腔体和所有测试管路内部连通并充满压力介质；测试时，密封圈安装在测试管路中，压力介质感受加压单元施加的交变压力，并将压力传递给密封圈；通过采集密封圈工作处压力介质的压力，判断对应的密封圈是否失效。
声明：
“密封圈的寿命测试装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
875
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
