本实用新型揭示了一种规模化
芯片自动测试装置，具有营造芯片运行环境的控温箱及穿接于控温箱内外、连接电源与测试板的供电线路，其特征在于：该装置设有在控温箱内与所有待测芯片相连的总线，且总线通过线缆连至控温箱外的上位机，形成上位机与各待测芯片的通信，所有待测芯片的状态实时记录于上位机的测试日志中。应用本实用新型该装置，实现了节省人工，把芯片失效时间精确记录到秒级，而且通过供电线路的开关控制和测试板级联，分别提高了测试作业的安全性和规模扩展性。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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