一种智能卡并联双位测试装置，包括用于放置智能卡的下模以及用于对智能卡进行测试的上模，所述上模的底部设有测试头，所述测试头上设有两排测试针排，每排测试针排由若干测试针组组成；每个测试针组由至少两根测试针组成。本实用新型的智能卡并联双位测试装置，在每个智能卡模块的触点上均设有至少两根测试针，对于M3模块，有6个触点，至少需要有12(6*2)根测试针，对于M2/M4模块，有8个触点，至少需要有16(8＊2)根测试针。采用多测试针系统的测试头装置，可以有效避免单根测试针由于受到粉尘干扰引起的误判，并可避免单根测试针由于疲劳、形变失效造成的误判，从而保证了长时间、少误测的大量智能卡模块产品的生产顺利进行，提升产品合格率，降低生产成本。
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来源：北方有色网
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