本发明涉及
芯片测试电路设计领域。公开了一种提高模拟滤波电路(104)测试效率的方法。本方法可以改进现有对模拟滤波电路(104)串行、单个测试方法的不足，提出了一种能够同时对多个模拟滤波电路(104)进行测试的方法。该方法通过ATE(101)控制配置寄存器(102)开启模拟滤波电路(104)；通过控制电路(103)控制测试寄存器(105)的复位；通过配置寄存器(102)对测试寄存器(105)的输出结果通过与或选择器(106)进行选择。ATE(101)通过观测输出的结果判断模拟滤波电路(104)是否失效。同时，通过配置寄存器(102)开启部分模拟滤波电路(104)，可以使用二分法快速定位失效的模拟滤波电路(104)，进而提高测试效率。
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“提高模拟滤波电路测试效率的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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