本发明公开了一种基于门控递归单元神经网络的电子器件剩余寿命预测方法，包括：获得电子器件在相同条件下的多组老化数据；对多组老化数据进行预处理；根据预处理后的老化数据以及电子器件失效机理获得失效变量；根据预处理后的老化数据建立门控递归单元神经网络老化模型；根据门控递归单元神经网络老化模型获得失效变量的预测变化值，结合设定的失效阈值，获得电子器件的剩余寿命。本发明提供的电子器件剩余寿命预测方法，通过构建门控递归单元神经网络老化模型预测电子器件的剩余寿命，综合考量了老化数据中各失效变量对电子器件剩余寿命的影响而进行预测，同时考虑到老化数据的时序特征，充分挖掘了老化数据中的信息，预测精度高，可靠性强。
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来源：北方有色网
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