本申请公开了一种闪存的有效性预测方法、装置及存储介质，其中方法包括：基于预定的擦除次数间隔，利用若干检测模型对待检测的闪存
芯片进行若干次可靠性等级检测，获得若干初始检测结果；基于各所述初始检测结果确定所述闪存芯片为有效状态或确定所述闪存芯片为非有效状态。本申请通过以预定擦除次数间隔执行预测，并且通过采用多模型、多次预测的方式来获得若干初始检测结果，然后综合各初始检测结果来最终确定闪存芯片为有效状态或者为非有效状态，提高预测的准确度，有效降低因为闪存芯片数据失效导致的数据安全隐患。
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“闪存的有效性预测方法、装置及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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