本实用新型涉及一种探针装置及自动调整探针压力的晶粒点测机，包括探针装置、Z轴自动升降装置和控制器，所述探针装置包括手动位置调节组件、压力传感器和探针，所述压力传感器用于检测探针压力；在整个LED
芯片的检测过程中，由于探针压力通过Z轴自动升降装置调整并始终保持在预设范围内，从而保证了探针和LED芯片的良好接触，使晶粒点测机能够正常检测LED芯片的发光性能；不会因为探针压力过大，导致固定探针的部件发生形变而使弹性失效，由于无须考虑固定探针的组件因弹性失效而导致的维修问题，因此提高了晶粒点测机的稳定性，降低了维修成本。
声明：
“探针装置及自动调整探针压力的晶粒点测机” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
931
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
