本发明公开了一种USB
芯片硅片级自动测试仪，包括：测试通道、失效数据存储器、随机存储器、非归零反相解码模块、数据文件和测试程序。本发明能实现将同时读取的多个USB芯片的握手响应信号或数据并分别存储于随机存储器中，从而能避免多个USB芯片的异步响应而造成的测试错误；能将存储于随机存储器中非归零反相编码的握手响应信号或数据进行解码，从而能实现多个USB芯片的同测、提高同测数目以及降低测试成本。本发明还公开了一种USB芯片硅片级测试方法。
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“USB芯片硅片级自动测试仪及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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