一种
芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端，所述方法包括：获取当前批次芯片的第一测试参数；根据所述第一测试参数计算所述当前批次芯片的边缘芯片比例，其中，所述边缘芯片比例为所述当前批次芯片中边缘芯片的占比，所述边缘芯片是所述第一测试参数的数值落入合格范围但超出边缘范围的芯片；当所述边缘芯片比例与基准边缘芯片比例之差大于第一预设提示值时，确定侦测到芯片测试参数异常，其中，所述基准边缘芯片比例与所述预设测试项相对应。通过本发明方案能够实现对芯片测试参数异常的自动侦测和推送，以在实际出现Bin失效前，提前预警芯片可靠性问题以及生产工艺和测试环节可能存在的问题。
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“芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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