本发明公开了一种
芯片测试装置及芯片测试方法。根据本发明实施例的芯片测试装置包括测试单元，用于向芯片提供测试信号，以及获取芯片反馈的反馈信号；探针卡，用于测试单元和芯片之间的电连接，探针卡用于测试信号和反馈信号的传递；以及去耦单元，与测试单元电连接，其中，反馈信号包括正常芯片反馈的正常反馈信号和失效芯片反馈的异常反馈信号，当探针卡与芯片电连接时，去耦单元过滤异常反馈信号。根据本发明实施例的芯片测试装置及芯片测试方法，设置有过滤异常反馈信号的去耦单元，能够防止异常反馈信号与正常反馈信号产生耦合效应，从而防止在测试时出现将合格芯片判断为失效芯片的情况。
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来源：北方有色网
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