本发明提供一种存储器测试装置及一种存储器
芯片测试方法，改变传统存储器测试仪的失效地址存储器的地址空间和被测芯片的地址空间一一对应的关系，将失效地址存储器的地址空间分割为连续的存储记录单元，每个存储记录单元不再存储测试通过的比特的地址数据，仅存储测试失效比特的地址数据：存储失效比特所在同测接触的标识地址、失效比特所在芯片在其所在同测接触内的相对地址、失效比特在其所在芯片内的地址信息等，由此在存储器功能测试过程中，实现了多芯片的失效信息的同时存储，以及失效地址硬件存储空间的利用率和测试速度的大大提高。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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