本申请公开了一种测试板、测试架及高加速应力测试的温差控制系统及方法，该测试板包括：基板和阵列式分布在基板上的多个样品卡槽，基板的一侧边设置有引脚，样品卡槽用于装载待测样品，样品卡槽上设置散热组件，散热组件位于待测样品背离样品卡槽的面上，散热组件通过螺纹件固定在样品卡槽；所述测试架包括相互垂直的第一连接部、第二连接部以及测试板。本申请公开的测试板和测试架使产品的温度均衡，降低
芯片温度与试验箱环境温度的温差，真实模拟实验环境下样品的工作状态，及时发现设计和工艺故障；本申请公开的控制方法能够实时监控测试样品与试验箱体的温差，不需要人工监控和调节温差，进一步保证真实模拟产品失效状态。
声明：
“测试板、测试架及高加速应力测试的温差控制系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
979
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
