本发明提出一种内建耐力测试系统、老化测试装置及相应的耐力测试方法，内建耐力测试系统包括一供电端、一接地端、一时钟端以及一输出端；所述内建耐力测试系统通过所述供电端、接地端和时钟端启动，并对一
芯片进行耐力测试，并通过所述输出端输出耐力测试结果。老化测试装置包括整机测试板、安置在所述整机测试板上的至少一组芯片、集成在每一芯片中的内建耐力测试系统、接收内建耐力测试系统输出的耐力测试结果的解码器以及根据解码器输出的解码结果以确定不能实现耐力测试的芯片的终端测试设备，以解决每批次进行的耐力测试样品数量少、耐力测试周期过长，且无法自动判断芯片样品读取动能失效以及测试成本昂贵的问题。
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来源：北方有色网
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