根据本发明的闪存错误检查及纠正修复方法包括：初始测试步骤，用于使闪存通过晶圆级测试以及封装级测试；应用步骤，用于将闪存应用至特定应用领域；第一判断步骤，用于判断是否存在擦除动作；其中，当第一判断步骤中判断存在擦除动作时读取整个擦除区域；在读取整个擦除区域之后执行第二判断步骤，用于判断是否存在读取失效。当第二判断步骤中判断存在读取失效时执行用于判断是否存在行失效的第三判断步骤。当第三判断步骤中判断存在行失效时执行用于判断冗余扇区是否失效的第四判断步骤。当第四判断步骤中判断冗余扇区失效时利用冗余扇区来进行修复。
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来源：北方有色网
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