本申请涉及一种存储器资源使用率检测及存储分配方法及装置，所述方法包括将存储
芯片的存储空间分为多个地址扇区和多个数据扇区，每个地址扇区和每个数据扇区均包括数据区和计数区，存储芯片上电初始化后，读取地址扇区中待测参数的所在扇区的地址，根据地址读取数据扇区以获取待测参数数据；待测参数数据至少包括累计擦写次数；当待写入数据扇区有参数需要写入时，比较累计擦写次数与预设的擦写次数阈值并显示比较结果；根据比较结果判断是否将参数写入待写入数据扇区或生成故障信息并进行显示。本申请增加存储芯片资源使用率状态显示和存储异常的故障显示，便于排查存储芯片的存储问题，避免控制器在功能失效的情况下运行而没有被发现。
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“存储器资源使用率检测及存储分配方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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