本发明涉及SSD的低功耗进退可靠性检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：获取高温SSD低功耗进退的寿命数据；根据寿命数据，计算得到威布尔分布形状参数和尺度参数；对威布尔分布假设进行校验；若校验通过，则获取常温SSD低功耗状态的使用强度及高温寿命试验加速因子；根据形状参数、尺度参数、使用强度及加速因子，计算得到SSD的低功耗进退可靠度，并生成检测结果。本发明能够准确评估低功耗状态在客户端现场失效概率，预估设计改善后产品可以达到的可靠度，同时对设计改善的效果也给予量化评价。
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“SSD的低功耗进退可靠性检测方法、装置、计算机设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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