本发明提出用于预测
芯片寿命的芯片内建自检电路，为维护人员提供维护依据，提前做好防范，减小不必要的损失。该结构建立于芯片上，包括：阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块等。所述阈值设置模块，用以选择可以用来检测芯片状态的模块以及失效值；所述参数检测模块，用以实时获取芯片工作状态参数；所述比较模块，用以将即时的芯片工作参数与阈值数值进行比较；所述信息发送模块，可以将比较结果发送到相关人员设备处，由工作人员决定具体的维护工作内容。
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“用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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