本发明公开了一种对相变存储器单元相变能力的快速检测方法，不需要使用开关单元，而是基于相变材料活化能特性，以及基于相变材料本征特性，通过各检测步骤获得了电阻漂移系数ν与剩余寿命N的关系，以及活化能E
σ与剩余寿命N的关系。通过测试与之相关联的电阻漂移过程来判断相变材料层的相变性能，不需要开关器件，而且测试过程始终为低的可读电流，不会降低器件寿命。可以依靠对照组来判断单元处于何种体质阶段，距离失效还有多远，而无需完整测试整个失效过程，大为减少测试时间。
声明：
“对相变存储器单元相变能力的快速检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1155
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
