本发明提出一种内建自测系统的自检修补法，步骤如下：将预期数据依地址依次增大的排列顺序输入到存储器存储阵列中；优化内建自测系统；内建自测系统记录存储器存储阵列的起始地址，并对存储器存储阵列中的存储数据依输入方式进行数据读取，且将每次依地址读取的存储数据的每一位数据依次与内建自测系统中以地址所对应的字节数为单位、依输入方式预先存储的预期数据的每一位数据进行比较，依次输出每一地址的比较结果，当比较结果表示为内容不一致时，确定所述比较结果对应存储阵列的存储数据为失效地址，则将冗余阵列修复失效地址的存储数据。本发明可快速判断存储器的失效地址，并通过冗余阵列修补该存储器的当前失效地址，缩短测试时间。
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来源：北方有色网
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