本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子下FPGA单粒子效应检测数据区分方法和系统，通过对FPGA器件进行大气中子单粒子效应实时检测，获取所述FPGA器件的总失效率；获取所述FPGA器件由阿尔法粒子导致的第一失效率；获取所述FPGA器件由热中子导致的第二失效率；根据所述总失效率、所述第一失效率和所述第二失效率获取所述FPGA器件由大气中子导致的目标失效率。本方案可区分FPGA器件大气中子单粒子效应实时测量试验数据中阿尔法粒子、热中子和大气中子三种成份各自的贡献，从而获得大气中子导致的FPGA器件单粒子效应失效率，从而提高FPGA器件大气中子单粒子效应敏感性的定量评价结果的准确性。 1
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来源：北方有色网
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